純水EDI（電去離子）模塊干燒通常是由于運行或維護不當導(dǎo)致的，可能的原因包括以下幾個方面：

　　1.系統(tǒng)設(shè)計或控制缺陷

　　液位控制失效：原水箱或中間水箱液位過低，但系統(tǒng)未及時停機，導(dǎo)致EDI模塊供水不足。

　　流量傳感器故障：進水流量監(jiān)測失靈，未能觸發(fā)保護機制。

　　聯(lián)鎖保護缺失：系統(tǒng)未設(shè)置進水流量低、壓力低或高溫的自動停機保護。

　　2.操作失誤

　　啟停順序錯誤：在啟動系統(tǒng)時未先通水后通電，或停機時先斷電后斷水，導(dǎo)致模塊短時干燒。

　　手動操作疏忽：維護或調(diào)試時人為關(guān)閉進水閥門但未斷電。

　　3.供水系統(tǒng)故障

　　預(yù)處理問題：前置過濾器堵塞、高壓泵故障或管道泄漏，導(dǎo)致供水中斷。

　　RO（反滲透）產(chǎn)水不足：RO系統(tǒng)產(chǎn)水量突然下降，EDI模塊進水不足。

　　4.電力或控制系統(tǒng)異常

　　電源波動：意外斷電后恢復(fù)供電時，系統(tǒng)自動重啟但未檢測水流狀態(tài)。

　　PLC/程序錯誤：控制邏輯錯誤或程序死機，導(dǎo)致模塊持續(xù)通電而無水通過。

　　5.維護不當

　　長期停機未排空：模塊長期未使用且未排干水分，殘留水蒸發(fā)后形成干燒。

　　未定期檢查：電極、膜堆或密封件老化未及時更換，導(dǎo)致漏水或水流分布不均。

　　6.其他原因

　　溫度過高：進水溫度超過設(shè)計值（通常要求＜35℃），加速水分蒸發(fā)。

　　結(jié)垢或污染：模塊內(nèi)部結(jié)垢或堵塞，水流通道受阻，局部形成干燒。

　　干燒的危害

　　膜和電極損壞：EDI的離子交換膜和電極可能因高溫脫水而Y久性失效。

　　樹脂降解：填充的樹脂顆粒失去活性，導(dǎo)致產(chǎn)水水質(zhì)下降。

　　安全風險：可能引發(fā)短路或火災(zāi)。

　　預(yù)防措施

　　1.完善控制系統(tǒng)：增設(shè)流量、壓力、溫度等多重保護聯(lián)鎖。

　　2.規(guī)范操作流程：嚴格遵循“先通水后通電，先斷電后斷水"原則。

　　3.定期維護：檢查傳感器、閥門、泵等關(guān)鍵部件，確保供水穩(wěn)定。

　　4.停機保護：長期停用時排空模塊或定期通水維護。

　　如果已發(fā)生干燒，需立即斷電，檢查膜堆和電極損壞程度，必要時更換受損部件。